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Correlation between non-ionizing energy loss and production rate of electron trap at EC − (0.12–0.20) eV formed in gallium nitride by various types of radiation 不同类型辐射在氮化镓中形成的EC−(0.12-0.20)eV电子陷阱的非电离能损失与产生速率之间的相关性
相关领域
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原子物理学
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期刊:Applied Physics Letters 作者:Keito Aoshima; Masahiro Horita; Jun Suda 出版日期:2023-01-02 |
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