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Site-specific preparation of plan-view samples with large field of view for atomic resolution STEM and TEM studies of rapidly solidified multi-phase Al Cu thin films 快速凝固多相Al Cu薄膜原子分辨率STEM和TEM研究大视场平面图样品的定点制备
相关领域
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期刊:Materials Characterization 作者:B. Vishwanadh; Jaehyuk Jo; Cecile S. Bonifacio; J.M.K. Wiezorek 出版日期:2022-05-06 |
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