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Addressing the Combined Effect of Transistor and Interconnect Aging in SRAM towards Silicon Lifecycle Management |
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期刊:2024 IEEE 42nd VLSI Test Symposium (VTS) 作者:Zhe Zhang; Mahta Mayahinia; Christian Weis; Norbert Wehn; Mehdi Tahoori; et al 出版日期:2024-04-22 |
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(2025-6-4)