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  Metric-based meta-learning model for few-shot fault diagnosis under multiple limited data conditions 相关领域
计算机科学
数据挖掘
人工智能
样品（材料）
利用
机器学习
嵌入
特征（语言学）
相似性（几何）
特征向量
模式识别（心理学）
断层（地质）
公制（单位）
工程类
地质学
化学
地震学
哲学
运营管理
图像（数学）
色谱法
语言学
计算机安全
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期刊：Mechanical Systems and Signal Processing 作者：Duo Wang; Ming Zhang; Yuchun Xu; Weining Lu; Jun Yang; et al 出版日期：2021-01-30 |
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