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  Temperature Reliability Investigation for a 400 W Solid-State Power Amplifier under High and Cold Conditions 400W固态功率放大器在高寒条件下的温度可靠性研究
相关领域
放大器
可靠性（半导体）
材料科学
电气工程
功率（物理）
电子工程
工程类
光电子学
CMOS芯片
物理
热力学
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| 其它 |
期刊：Electronics 作者：Qian Lin; Fei You; Jihua Wu; Yingchun Lv 出版日期：2023-10-18 |
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