Research on the Functional Failure of Large Scale Chips Caused by Recoverable Latch up

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标题	Research on the Functional Failure of Large Scale Chips Caused by Recoverable Latch up 可恢复锁存导致大规模芯片功能失效的研究相关领域可靠性（半导体）晶体管炸薯条电压 CMOS芯片薄脆饼双极结晶体管计算机科学电子工程电迁移可靠性工程静电放电电气工程工程类功率（物理）物理量子力学
网址	https://doi.org/10.1109/ipfa58228.2023.10249050
DOI	10.1109/ipfa58228.2023.10249050 doi
其它	期刊：作者：Shuanshe Chao; Xinyi Lin; Xixiong Wei; Dan Yang; Zhuqiu Wang; et al 出版日期：2023-07-24
求助人	JevonCheung 在 2025-07-31 13:57:48 发布自广东，悬赏 10 积分
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