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![]() 面向汽车应用的嵌入式MRAM扩展到8nm及以上逻辑的关键技术
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期刊:2021 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) 作者:Seung Hwan Ko; Jaehoon Shim; J.H. Park; Woo‐Hyun Lim; Hoeryong Jung; et al 出版日期:2024-12-07 |
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