| 标题 |
  A Sparsity-Promoting Time Domain Evaluation Method for Thermal Transient Measurement of Power Semiconductors 相关领域
瞬态（计算机编程）
时域
半导体
瞬态分析
电子工程
功率（物理）
热的
半导体器件
材料科学
电气工程
计算机科学
瞬态响应
工程类
光电子学
物理
纳米技术
操作系统
气象学
量子力学
图层（电子）
计算机视觉
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：IEEE Transactions on Power Electronics 作者：Yi Zhang; Anton Evgrafov; Shuai Zhao; Sven Kalker; Rik W. De Doncker 出版日期：2024-02-21 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成，仅限求助人下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
cdercder
Maestro_S
Criminology34
奔跑
Kao
wwww
渡人舟
arniu2008
aajhajkahna
dde
sagitar
大苦瓜
Car66614
碧蓝明雪
OK
GingerF
无极微光
修仙中
小高
阳爱航
皖公网安备34019202002308
