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  Physics-Based TCAD Simulation and Calibration of 600 V GaN/AlGaN/GaN Device Characteristics and Analysis of Interface Traps 相关领域
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期刊：Micromachines 作者：Yu‐Lin Song; Manoj Reddy; Luh‐Maan Chang; Gene Sheu 出版日期：2021-06-26 |
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