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(Invited) Baseplate Materials for Securing Reliability of Wide Band Gap Power Semiconductor Module Operating at High Temperatures 用于确保在高温下工作的宽带隙功率半导体模块的可靠性的(邀请)基板材料
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期刊:ECS Meeting Abstracts 作者:Hiroki Takahashi; Takeshi Anzai; Fumiki Kato; Shinji Sato; Hidekazu Tanisawa; et al 出版日期:2015-07-07 |
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