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 Pushing the limits of label-free single-molecule characterization by nanofluidic scattering microscopy 相关领域
表征（材料科学）
显微镜
纳米技术
散射
极限（数学）
检出限
灵敏度（控制系统）
光散射
材料科学
半径
原子力显微镜
激光器
功率（物理）
光学显微镜
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光电子学
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X射线散射技术
光学
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期刊： 作者：Bohdan Yeroshenko; Henrik Klein Moberg; L. G. Beckerman; Joachim Fritzsche; David Albinsson; et al 出版日期：2025-09-15 |
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(2025-6-4)
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