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Study of the interfaces in resistive switching NiO thin films deposited by both ALD and e-beam coupled with different electrodes (Si, Ni, Pt, W, TiN) 相关领域
非阻塞I/O
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期刊:Microelectronic Engineering 作者:A. Lamperti; S. Spiga; H.L. Lu; C. Wiemer; M. Perego; et al 出版日期:2008-12-01 |
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