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Use of a High-Work-Function Ni Electrode to Improve the Stress Reliability of Analog $\hbox{SrTiO}_{3}$ Metal–Insulator–Metal Capacitors |
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期刊:IEEE Electron Device Letters 作者:K.C. Chiang; C.H. Cheng; K.Y. Jhou; H.C. Pan; C.N. Hsiao; et al 出版日期:2007-08-08 |
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