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A Failure Caused by Extended Cross-Defect in DRAM 相关领域
德拉姆
冗余(工程)
动态随机存取存储器
软错误
材料科学
电压
计算机科学
失效模式及影响分析
可靠性工程
光电子学
电子工程
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工程类
复合材料
计算机硬件
半导体存储器
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期刊:International Symposium for Testing and Failure Analysis 作者:Jaehoon Lee; Jinseon Kim; Dongguk Han; Seunghun Lee; Sunwoo Kim; et al 出版日期:2023-11-12 |
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(2025-6-4)