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Planar defects, dislocations, and coherently scattering-size in GdBa2Cu3O7−x high-Tc thin films determined by high resolution X-ray diffraction |
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期刊:Journal of Applied Physics 作者:Gábor Csiszár; Xiao-Fen Li; Gyula Zilahi; Levente Balogh; Tamás Ungár 出版日期:2013 |
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