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 Dynamic On-Resistance Degradation in E-Mode GaN HEMTs Under Over-Voltage Hard Switching Stress: Insight of Physical Space and Energy Levels 过压硬开关应力下E型GaN HEMT的动态导通电阻退化：物理空间和能级的洞察
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期刊： 作者：Haoran Wang; Po‐Yen Huang; Wei‐Ting Hsu; Shawn S. H. Hsu; King‐Yuen Wong 出版日期：2025-06-01 |
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