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Defect analysis of Sn-doped Ga2O3/SiC hetero-structured Schottky diodes using deep level transient spectroscopy |
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期刊:Journal of Applied Physics 作者:Tae-Hee Lee; Ji-Soo Choi; Se-Rim Park; Seung-Hwan Chung; Geon-Hee Lee; et al 出版日期:2025 |
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(2025-6-4)