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Failure analysis of heavy ion-irradiated silicon carbide junction barrier Schottky diodes 重离子辐照碳化硅结势垒肖特基二极管失效分析
相关领域
肖特基势垒
材料科学
碳化硅
光电子学
肖特基二极管
透射电子显微镜
辐照
金属半导体结
二极管
复合材料
纳米技术
物理
核物理学
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| 其它 |
期刊:Microelectronics Reliability 作者:Shuang Cao; Qingkui Yu; Qianyuan Wang; He Wang; Yi Sun; et al 出版日期:2024-04-19 |
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