| 标题 |
 Scanning probe lithography-based mix-and-match technique as an enabling tool for the pilot production of nanowire-based next-generation electromechanical sensors |
| 网址 | |
| DOI |
10.1117/12.3092793
doi
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| 其它 |
期刊：Advanced Lithography 作者：Taner Altinmakas; Mert Ozden; Sina Zare Pakzad; Hans-Georg Pietscher; Javad Basseri; et al 出版日期：2026-04-08 |
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