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  Pulsed Force Kelvin Probe Force Microscopy through Integration of Lock-In Detection 通过集成锁定检测的脉冲力开尔文探针力显微镜
相关领域
开尔文探针力显微镜
伏打电位
显微镜
工作职能
纳米技术
扫描探针显微镜
光电子学
材料科学
静电力显微镜
纳米尺度
兴奋剂
化学
原子力显微镜
光学
物理
图层（电子）
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| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Nano Letters 作者：Amirhossein Zahmatkeshsaredorahi; Devon S. Jakob; Hui Fang; Zahra Fakhraai; Xiaoji G. Xu 出版日期：2023-09-22 |
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