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 X-ray rocking curve imaging on large arrays of extremely tall SiGe microcrystals epitaxial on Si Si上外延极高SiGe微晶大阵列的X射线摇摆曲线成像
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期刊：Journal of Applied Crystallography 作者：Mojmír Meduňa; Ondřej Caha; Emanuil Choumas; Franco Bressan; H. von Känel 出版日期：2021-06-14 |
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