| 标题 |
 29.4: Influence of Measuring Environment on the Electrical Characteristics of a‐IGZO thin film transistors 29.4：测量环境对a-IGZO薄膜晶体管电特性的影响
相关领域
薄膜晶体管
材料科学
光电子学
晶体管
电极
蚀刻（微加工）
图层（电子）
泄漏（经济）
信号（编程语言）
电气工程
纳米技术
计算机科学
电压
化学
工程类
物理化学
经济
宏观经济学
程序设计语言
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：SID Symposium Digest of Technical Papers 作者：Nian Liu; Zhengyu Feng; Macai Lu; Xueru Mei; Minggang Liu; et al 出版日期：2021-08-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
无极微光
DW
null
152455
mmmm
花开富贵
aaaa
Criminology34
雨落千年
aajhajkahna
秋风
LYSM
v0id
小情绪
04d
七听
invisight
极限001
茶叶渣显示今天有雨
Link
皖公网安备34019202002308
