| 标题 |
[高分]
 Profile monitoring via a nonparametric Bayesian online learning framework: Application to wafer map data in the semiconductor manufacturing industry 基于非参数贝叶斯在线学习框架的轮廓监测：在半导体制造业晶圆图数据中的应用
相关领域
半导体器件制造
非参数统计
薄脆饼
贝叶斯概率
半导体工业
计算机科学
工业工程
制造工程
数据挖掘
工程类
统计
人工智能
数学
电气工程
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| 其它 |
期刊：Journal of Quality Technology 作者：Daewon Yang; Jinsu Park; Hohyun Jung; Yeonseung Chung 出版日期：2025-08-11 |
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