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Investigation of hot-carrier-injection assisted TDDB and multi-stage hot-hole induced leakage current in BCD HV NMOS |
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期刊:2017 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) 作者:Yu-Hui Huang; C.-L. Chen; Y.-H. Lee; C.-Y. Yang; P.-C. Su; et al 出版日期:2017-06-08 |
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