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Memory Devices with HfO2 Charge-Trapping and TiO2 Channel Layers: Fabrication via Remote and Direct Plasma Atomic Layer Deposition and Comparative Performance Evaluation 相关领域
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期刊:Materials 作者:Inkook Hwang; Jiwon Kim; Joung‐Ho Lee; Yeonwoong Jung; Chang‐Bun Yoon 出版日期:2025-02-21 |
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