| 标题 |
Tuning the interfacial properties of stacked gate dielectrics on silicon carbide by inserting h-BN layer 通过插入h-BN层调节碳化硅上堆叠栅介质的界面特性
相关领域
材料科学
钝化
光电子学
电介质
电容器
碳化硅
栅极电介质
宽禁带半导体
高-κ电介质
电流密度
泄漏(经济)
功率密度
图层(电子)
硅
带偏移量
低介电常数
偏移量(计算机科学)
退火(玻璃)
阈值电压
电压
原子层沉积
电气工程
功率半导体器件
介电强度
逻辑门
数码产品
普尔-弗伦克尔效应
电容
电力电子
态密度
薄膜
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Applied Physics Letters 作者:Xuan Tang; Jingren Chen; Zhanwei Shen; Yuyang Miao; Ji Jiang; et al 出版日期:2025-10-13 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|