Towards accurate and efficient process simulations based on atomistic and neural network approaches

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标题	Towards accurate and efficient process simulations based on atomistic and neural network approaches
网址	https://doi.org/10.1109/IEDM45625.2022.10019371
DOI	10.1109/IEDM45625.2022.10019371 doi
其它	期刊：2022 International Electron Devices Meeting (IEDM) 作者：L. Li; M. Agrawal; S. Y. Yeh; K. T. Lam; J. Wu; B. Magyari-Kope 出版日期：2022
求助人	怕孤独的飞槐在 2026-06-16 17:22:38 发布自新加坡，悬赏 10 积分
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