| 标题 |
Effects of High‐Pressure H2 and D2 Post‐Metallization Annealing on the Electrical Properties of HfO2/Si0.7Ge0.3 |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:physica status solidi (RRL) – Rapid Research Letters 作者:Jinyong Kim; Seongheum Choi; An Hoang-Thuy Nguyen; Woohui Lee; Rino Choi; Hyoungsub Kim 出版日期:2022-12-26 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)