The Effects of Post Annealing Process on the Electrical Performance and Stability of Al-Zn-O Thin-Film Transistors

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标题	The Effects of Post Annealing Process on the Electrical Performance and Stability of Al-Zn-O Thin-Film Transistors
网址	https://doi.org/10.1109/LED.2020.2977377
DOI	10.1109/LED.2020.2977377 doi
其它	期刊：IEEE Electron Device Letters 作者：Xiaobin Zhou; Dedong Han; Junchen Dong; Huijin Li; Zhuang Yi; et al 出版日期：2020
求助人	WZ 在 2026-03-08 16:21:34 发布自福建，悬赏 10 积分
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