| 标题 |
 High-Resolution Low-Sampling-Rate Δ∑ ADC Linearity Short-Time Testing Algorithm 相关领域
采样（信号处理）
算法
线性
计算机科学
逐次逼近ADC
电子工程
模数转换器
过采样
奈奎斯特-香农抽样定理
CMOS芯片
有效位数
积分非线性
信号（编程语言）
校准
无杂散动态范围
转换器
奈奎斯特率
探测器
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| DOI | |
| 其它 |
期刊：2019 IEEE 13th International Conference on ASIC (ASICON) 作者：Jiang-Lin Wei; Takashi Ishida; Toshiyuki Okamoto; Tamotsu Ichikawa; Nene Kushita; et al 出版日期：2019 |
| 求助人 |
Xin Chen
在
2022-01-05 17:59:32 发布，悬赏 10 积分
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