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In Situ Diagnosis of Multichip IGBT Module Wire Bonding Faults Based on Collector Voltage Undershoot 基于集电极电压下冲的多片IGBT模块引线键合故障原位诊断
相关领域
绝缘栅双极晶体管
电气工程
拓扑(电路)
计算机科学
电压
材料科学
电子工程
工程类
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| 其它 |
期刊:IEEE Transactions on Industrial Electronics 作者:Wuyu Zhang; Kun Tan; Bing Ji; Lei Qi; Xiang Cui; et al 出版日期:2022-05-11 |
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