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Evaluation of Neutron Radiation Impact for 1200-V Class 4H-SiC MOSFET at Gate Switching Mode With TCAD Simulation 用TCAD模拟评估1200V 4H-SiC MOSFET在栅极开关模式下的中子辐射影响
相关领域
MOSFET
碳化硅
材料科学
光电子学
功率MOSFET
晶体管
栅氧化层
宽禁带半导体
稳健性(进化)
电子工程
电气工程
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工程类
化学
冶金
基因
生物化学
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期刊:IEEE Transactions on Nuclear Science 作者:Dongwoo Bae; Kiseog Kim; Hyeokjae Lee; Sung Soo Chung; Joongsik Kih; et al 出版日期:2023-05-04 |
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