| 标题 |
  Structural changes in Cz-Si single crystals irradiated with high-energy electrons from data of high-resolution X-ray diffractometry 相关领域
辐照
高能
X射线
材料科学
高分辨率
电子
结晶学
分析化学（期刊）
原子物理学
化学
光学
核物理学
物理
色谱法
遥感
地质学
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期刊：Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics 作者：І. М. Фодчук 出版日期：2010-04-30 |
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