| 标题 |
Hole Mobility in Accumulation Mode Metal–Oxide–Semiconductor Field-Effect Transistors |
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| DOI |
10.7567/jjap.51.04dc07
doi
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期刊:Japanese Journal of Applied Physics 作者:Philippe Gaubert; Akinobu Teramoto; Shigetoshi Sugawa; Tadahiro Ohmi 出版日期:2013-12-21 |
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