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 Characterization of the Dopant Dependence of Ni-Silicide on a SOI Substrate for a Nano-Scale CMOSFET 相关领域
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期刊：Journal of the Korean Physical Society 作者：Soon-Yen Jung; Yong-Jin Kim; Won‐Jae Lee; Yingying Zhang; Zhun Zhong; et al 出版日期：2007-06-15 |
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