| 标题 |
Determination of escape depth and yield of truly secondary electrons from experimental data of X-ray photoemission energy spectrum
相关领域
电子
产量（工程）
原子物理学
次级电子
能谱
反向光电发射光谱
光电发射光谱学
能量（信号处理）
物理
谱线
核物理学
量子力学
热力学
|
| 网址 |
求助人暂未提供
AI链接 osti.gov |
| DOI |
暂未提供，该求助的时间将会延长，查看原因？
|
| 其它 | Shchemelev, V. N., Rumsh, M. A., & Denisov, E. P. Determination of escape depth and yield of truly secondary electrons from experimental data of X-ray photoemission energy spectrum. Soviet Physics–Solid State, 5, 827–830 (1963). |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
无极微光
坚强冰枫
aaaa
滴滴答答
null
极限001
乐空思
秋风
我看看怎么个事
Nole
v0id
prigogin
Elsevier大王
h不爱科研
OK
吃葡萄不吐葡萄皮
xuan
Youdge
xing_xing
七听
皖公网安备34019202002308
