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Degradation of 4H-SiC MOSFET body diode under repetitive surge current stress |
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期刊:2020 32nd International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD) 作者:Zhengyun Zhu; Na Ren; Hongyi Xu; Li Liu; Qing Guo; et al 出版日期:2020-09-01 |
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(2025-6-4)