氧化剂
硅
氧气
等离子体
离子
化学物理
环境化学
材料科学
化学
化学工程
无机化学
光电子学
物理
核物理学
有机化学
工程类
作者
J L Moruzzi,A. Kiermasz,W. Eccleston
出处
期刊:Plasma Physics
[IOP Publishing]
日期:1982-06-01
卷期号:24 (6): 605-614
被引量:41
标识
DOI:10.1088/0032-1028/24/6/003
摘要
A brief review of the techniques used to oxidise silicon in oxygen discharges is given and a series of experiments that have been carried out to identify the oxidizing species are described. There is strong evidence to suggest that the negative ion O- is responsible for the observed phenomenon.
科研通智能强力驱动
Strongly Powered by AbleSci AI