铁电性
领域（数学分析）
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电介质
数学分析
作者
Christopher T. Nelson,Peng Gao,Jacob R. Jokisaari,Colin Heikes,Carolina Adamo,Alexander Melville,Seung‐Hyub Baek,Chad M. Folkman,Benjamin Winchester,Yijia Gu,Yuanming Liu,Kui Zhang,Li Wang,Jiangyu Li,Long‐Qing Chen,Chang‐Beom Eom,Darrell G. Schlom,Xiaoqing Pan
出处
期刊：Science
[American Association for the Advancement of Science]
日期：2011-11-17
卷期号：334 (6058): 968-971
被引量：352
标识
DOI：10.1126/science.1206980
摘要
The role of defects and interfaces on switching in ferroelectric materials is observed with high-resolution microscopy.
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