Observation of Microstructural Evolution of Aluminum Bonding Wires in Power Electronic Package

材料科学 引线键合 晶体管 功率半导体器件 光电子学 二极管 电气工程 动力循环 电源模块 电子线路 功率(物理) 电压 工程类 炸薯条 可靠性(半导体) 量子力学 物理
作者
D Ron Liu,K Chen,Edward Jih
出处
期刊:Microscopy and Microanalysis [Oxford University Press]
卷期号:5 (S2): 876-877
标识
DOI:10.1017/s1431927600017700
摘要

Abstract Power electronic circuits are used in electric vehicle or hybrid electric vehicle to drive the main electric motor. All the transistors and diodes in a sealed power electronic package will experience repeated high current cycling during their service life. The aluminum bonding wires which connect these devices to the rest of the circuit will experience repeated thermal strain cycling. When design a power electronic package, the thermal fatigue durability of these bonding wires would be a concern. A power electronic module with pure aluminum bonding wires of 0.5mm in diameter from a vendor was power cycled with the following schedule. Each transistor in the circuit was on for 10 seconds with the current at 400 Amperes followed by the transistor being off for 30 seconds. The wires from the diodes to the copper trace lines are about twice as long as those from the transistors to the copper trace lines.
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