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作者
Ji‐Sang An,Hae-Seung Lee,Pilgyu Byeon,Dongho Kim,Hyung Bin Bae,Si‐Young Choi,Jungho Ryu,Sung‐Yoon Chung
摘要
We elucidate that the peculiar segregation behavior of indium have a critical contribution to achieving unprecedented dielectric properties for a new class of high-reliability ceramic capacitors.
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