钝化
串联
开路电压
钙钛矿(结构)
材料科学
光电子学
电压
工程物理
电气工程
纳米技术
化学工程
图层(电子)
复合材料
工程类
作者
Young Im Noh,Chan Ul Kim,Youngseok Lee,Md Halim Hossain,Hyungju Ahn,Doh‐Kwon Lee,Keunkee Hong,Inho Kim,Kyoung Jin Choi
出处
期刊:Small methods
[Wiley]
日期:2025-09-06
卷期号:9 (11): e00808-e00808
被引量:1
标识
DOI:10.1002/smtd.202500808
摘要
and PCE reported for PST cells with PERC-based p-type silicon bottom cell technology. Even after 1000 hours of damp heat testing at 85 °C and 85% relative humidity, the device with dual passivation maintained 90.70% of its initial PCE.
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