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A Target-Read Retry Scheme for 3D Charge Trap NAND Flash Memory |
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期刊:2023 International Electron Devices Meeting (IEDM) 作者:Y. L. Chou; C. C. Lu; W. J. Tsai; T. C. Lu; K.C. Chen; et al 出版日期:2023-12-09 |
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