| 标题 |
 Metallization Reliability of GaN-Based High-Voltage Light-Emitting Diodes GaN基高压发光二极管的金属化可靠性
相关领域
电迁移
材料科学
光电子学
多物理
电流密度
电极
互连
发光二极管
可靠性（半导体）
二极管
氮化镓
有限元法
复合材料
图层（电子）
工程类
结构工程
电信
功率（物理）
化学
物理
物理化学
量子力学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
cdercder
GingerF
囧囧
Kao
OK
无极微光
Criminology34
渡人舟
修仙中
无奈的梦凡
arniu2008
6666
lyx_uoryit
Nole
馨馨的科科
哈哈鬼
aajhajkahna
LaTeXer
王阳洋
外向又夏
皖公网安备34019202002308
