| 标题 |
Detecting topography changes with combined torsional and flexural resonance mode atomic force microscopy |
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10.1117/12.3090431
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| 其它 |
期刊:Metrology, Inspection, and Process Control XL 作者:Jonas Hendrikx; Erik Steur; Robbert Voorhoeve; Henk Nijmeijer; Nathan van de Wouw 出版日期:2026-06-08 |
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(2025-6-4)