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 Exploring the use of approximate TMR to mask transient faults in logic with low area overhead 探索使用近似TMR以低面积开销掩盖逻辑中的瞬态故障
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期刊：Microelectronics Reliability 作者：Iuri A. C. Gomes; Mayler G. A. Martins; André I. Reis; Fernanda Lima Kastensmidt 出版日期：2015-07-13 |
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