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 Thermal cycle impact on polycrystalline silicon: Direct observation of electrical properties degradation and interfacial nanocrystalline grain defects 相关领域
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期刊：Nano Research 作者：Qiaoqiao Kang; Xin Tian; Pu Wang; Hui Yan; Jifang Tao; et al 出版日期：2025-03-01 |
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