| 标题 |
Investigation of positive gate bias stress-induced instability of bottom-gated CNT FET |
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10.1117/12.3068890
doi
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| 其它 |
期刊: 作者:Chao Xu; Hui Zhu; Wenxuan Zheng; Miaomiao Xu; Chaoquan Hu; et al 出版日期:2025-07-24 |
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(2025-6-4)