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Aggressive SiGe Channel Gate Stack Scaling by Remote Oxygen Scavenging: Gate-First pFET Performance and Reliability |
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期刊:ECS Solid State Letters 作者:M. M. Frank; E. A. Cartier; T. Ando; S. W. Bedell; J. Bruley; et al 出版日期:2012-12-02 |
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