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 Research on the power cycling aging mechanism and lifetime prediction of IGBT modules under low air pressure environment 低压环境下IGBT模块功率循环老化机理及寿命预测研究
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期刊：IEEE Journal of Emerging and Selected Topics in Power Electronics 作者：Pan Yue; Yongqiang Kang; Ziwei Liu; Yifan Wei; Liqiu Wei; et al 出版日期：2025-01-01 |
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